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瑞士TESA μHITE型测高仪
产品说明: 该测量站各方面远超测高仪。这种紧凑、坚固且高精度的仪器专门设计用于在靠近加工中心的车间现场的测量操作, 以及更多的控制和高要求检查点,诸如实验室。该仪器的测量范围为100mm这种“一体式”台站特别适合于在靠近···
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- 产品介绍
该测量站各方面远超测高仪。这种紧凑、坚固且高精度的仪器专门设计用于在靠近加工中心的车间现场的测量操作, 以及更多的控制和高要求检查点,诸如实验室。
该仪器的测量范围为100mm这种“一体式”台站特别适合于在靠近生产线的位置来测量控制小零件。它甚至可以取代传统的1D测头来使用,这种测头测量范围非常有限并且通常只能用于单个应用。
它与TESA MICRO-HITE测高仪控制面板结合使用,使得该系统可显著提升生产力。其'学习' 模式加上其的执行速度可以对生产线的产出有积极影响。
该测量站因此代表一种简便的融合解决方案 ,即使用一种产品适配各种应用和用户环境的同时保证其灵活性不受影响。
– 生产现场理想的检查工具
– 100 mm 量程
–0.001 mm 和0.0001 mm 或 0.0001 in 和0.00001 in 分辨力
– 最大允许误差低至2 μm (或轴向测量时 1 μm)
– 集成了温度传感器,使得每台测高仪具有和钢一样的
线性膨胀系数 (11.5 x 10-6 K-1)
– 电动测量头使得每点的探测更快
– 自动数据采集, 使得测量力和所有测量
数据更加稳定
– 通过电机驱动使得测量力恒定,可开关控制
– 无需人工计算
– 通过TLC接口数据输出
型号 | 描述 | TESA μHITE |
量程 | 使用标准附件 | 0 – 160mm |
最大允许误差 | 同轴触点 | 1.0μm |
偏置触点 | 2.0μm | |
重复性精度 | 同轴触点 | 0.5μm |
偏置触点 | 1.0μm | |
重量 | 净重 | 16.2kg |
包含以下组件 | ||
00760203 | TESA测量底座花岗石平台, 尺寸200 x 300 x 50 mm | |
00730502 | TESA-μHITE电子测量装置+面板+适配盒 |
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